薄膜介質損耗儀

簡要描述：薄膜介質損耗儀用于科研機關、學校、工廠等單位對無機金屬新材料性能的應用研究。介質損耗和介電常數(shù)是各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質的一項重要的物理性質。通過測定可進一步了解影響介質損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)。

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詳細介紹

品牌	霍爾德?電子	價格區(qū)間	面議
產地類別	國產	應用領域	鋼鐵/金屬

儀器簡介:

介質損耗和介電常數(shù)是各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質的一項重要的物理性質。通過測定可進一步了解影響介質損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)。

薄膜介質損耗儀的用途:

薄膜介質損耗儀用于科研機關、學校、工廠等單位對無機金屬新材料性能的應用研究。

參考標準:

u GB/T 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長存內)下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法；

u GB/T 1693-2007 硫化橡膠介電常數(shù)和介質損耗角正切值的測定方法；

u ASTM-D150-介電常數(shù)測試方法；

u GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質損耗和介電常數(shù)的測試方法。

技術參數(shù)

1	信號源	DDS數(shù)字合成 10KHZ-70MHz
2	采樣精度	11BIT
3	測量范圍	1-1000自動/手動量程
4	分辨率	0.1
5	測量工作誤差	<5%
6	電感測量范圍	分辨率0.1nH
7	電感測量誤差	<3%
8	調諧電容	主電容30-540pF
9	電容直接測量范圍	1pF～2.5uF
10	調諧電容誤差	±1 pF或<1% 0.1pF
11	諧振點搜索	自動掃描
12	合格預置范圍	5-1000聲光提示
13	LCD顯示參數(shù)	F，L，C，Q，Lt，Ct等
14	介質損耗系數(shù)精度	萬分之一
15	介電常數(shù)精度	千分之一
16	材料測試厚度	0.1mm-10mm
17	技術	儀器自動扣除殘余電感和測試引線電感。大幅提高測量精度。大電容值直接測量顯示。數(shù)顯微測量裝置，直接讀值。

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